摘要
PCB銅箔基板質(zhì)量隨著電子系統(tǒng)輕薄短小、高功能、高密度化及高可靠性的趨勢,要求愈趨嚴(yán)格。PCB
銅箔基板制造,從原物料玻璃纖維布進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)格,膠片烘烤條件、膠含量、膠流量、膠化時(shí)間、轉(zhuǎn)化程度與儲存條件等,基板壓合條件的設(shè)定,均會影響PCB銅箔基板厚度質(zhì)量,厚度質(zhì)量的管控,需檢討所有制程著手,在制程能力方面做一定程度的提升,非一味挑選,增加成本支出。目前PCB銅箔基板
制造廠已經(jīng)漸漸改用非接觸式雷射測厚全檢取代以人工用分厘卡抽驗(yàn)厚度,系統(tǒng)設(shè)計(jì)各有特色,雷射測厚儀傳感器機(jī)構(gòu)大多需要配合現(xiàn)場設(shè)計(jì)施工,測試方法各異,維護(hù)以及增加新功能都需透過設(shè)備制造廠,臺灣德聯(lián)高科之雷射測厚儀自架構(gòu)設(shè)計(jì)起均有參加與主導(dǎo),更擁有軟件所有權(quán),故后來都可以自行增加統(tǒng)計(jì)、警告及網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控等功能,現(xiàn)在吾人將此實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)分享出來,試著分析其架構(gòu)與故障發(fā)生原因。
1. 緣起
PCB銅箔基板提供電子零組件在安裝與互連的支撐體,隨著電子系統(tǒng)輕薄短小、高功能、高密度化、及高可靠性的趨勢,PCB銅箔基板質(zhì)量將直接影響電子產(chǎn)品的信賴度。
PCB銅箔基板之制造在厚度的質(zhì)量控管就有許多要注意,大致說來有膠片半成品的品管以及壓合條件的配合,因此厚度結(jié)果是所有制程控制的綜合結(jié)果表現(xiàn)。
以往PCB 業(yè)者對于基板厚度僅要求達(dá)到IPC-4101[1] CLASS B的水平,但自2000 年開始即要求CLASS C或更高的需求,以因應(yīng)印刷電路板高層數(shù)、高密度的市場趨勢,然而這些要求PCB 業(yè)者還是覺得不夠,開始引用統(tǒng)計(jì)制程管制(SPC,Statistical Process Control)[2],最常用到的為制程準(zhǔn)確度(Ca, Capability of accuracy,愈趨近于0 愈好)及制程能力指數(shù)(Cpk,數(shù)字愈高愈好)。其計(jì)算公式為:
Ca = (實(shí)測平均值-規(guī)格中心值)/規(guī)格公差之半* 100%
Cpk = Min(規(guī)格上限-平均值, 平均值-規(guī)格下限) / 3 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差
統(tǒng)計(jì)制程管制的引用,不單是要求產(chǎn)品在規(guī)格界限內(nèi),更要求集中在規(guī)格中心值,然而這個(gè)方法主要用于廠內(nèi)制程改善,若一味要求Cpk 達(dá)到高水平,而不管所制定的規(guī)格上下限,可能會鬧出笑話,或者將產(chǎn)品全數(shù)重新選別,增加成本支出。例如6mil 1/1 之PCB銅箔基板,假設(shè)含銅厚度8.5mil 為規(guī)格中值而且厚度分布曲線屬于常態(tài)分布, 實(shí)測平均值是8.5 (Ca=0) ,厚度分布在8.08~8.92, Class C 的規(guī)格上下限,Cpk 可達(dá)1.67,但在Class D 的規(guī)格則下降至1.33。
因此Cpk 和規(guī)格需一起經(jīng)由供貨商及廠商共同商定。
Cpk 是一整批數(shù)據(jù)算出,若Cpk 不合格,理論上是整批退貨,直覺上覺得不合理,因?yàn)槎忌a(chǎn)合乎規(guī)格的產(chǎn)品怎能退呢。因此可以了解就算制程上可以都生產(chǎn)合格的產(chǎn)品,但可能因?yàn)橐恍┲瞥滩环€(wěn)定或平均值不在規(guī)格中心值,而導(dǎo)致Cpk 不合格,顯示制程還有改進(jìn)空間。為了Cpk能合格,因此可以采取篩檢去掉接近規(guī)格上下限產(chǎn)品,以求得之后較高Cpk,但會降低良率,在針對良率制定獎(jiǎng)金的工廠,可能會造成現(xiàn)場員工的反彈。
2. 方法
早期以人工方式用分厘卡(micrometer)量測板邊,但會有痕跡,難以全檢,因此采用非接觸式之雷射位移傳感器做成的雷射測厚儀。
分級需按照IPC 規(guī)定,分級方法可采用標(biāo)簽機(jī)的方式,Class A 用紅卷標(biāo),Class B 用藍(lán)色卷標(biāo),若客戶有更嚴(yán)格要求則可做分站處理,分為四等級四個(gè)棧板。以圖二為在線測厚儀測試流程示意圖[3]。
3. 架構(gòu)
利用雷射位移傳感器所發(fā)展的測厚儀為光機(jī)電整合, 光設(shè)計(jì)部份已經(jīng)設(shè)計(jì)為雷射位移傳感器獨(dú)立組件,因而只需做機(jī)電整合,再搭配軟件擴(kuò)充功能。圖三為測厚儀架構(gòu)流程。
各部份零組件的選擇以及各組件的連接極為重要,否則誤差與不穩(wěn)定必隨著而來。
3.1 位移傳感器
位移傳感器的選擇必須考慮PCB銅箔基板特性、可容許公差分辨率,通??杀容^其量測距離、分辨率、線性度與取樣周期。量測距離需包含所有待測PCB銅箔基板之厚度;分辨率需配合傳感器型錄批注,相同分辨率其取樣數(shù)少,表示比較好;線性度愈小愈好,例如量測距離為+/-5mm,線性度為1% F.S. & 0.1% F.S.,最大誤差分別為0.1mm &0.01mm (5mm*2*0.1%);取樣周期若較慢,波動(dòng)會較小。
3.2 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換卡
模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換卡(ADC card)的選擇,首重分辨率,以目前薄板占多數(shù)的市場,必須使用到16bit,12 bit 在薄板的容許公差是不足夠的。
接下來要考慮輸入信道與輸入電壓范圍,一般業(yè)界設(shè)計(jì)大多用三個(gè)剖面,需要六個(gè)位移傳感器,也就是六個(gè)輸入信道,模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換卡大多有多達(dá)16 個(gè)通道;位移傳感器輸出訊號有兩大類一為電壓,另一為電流,一般范圍分別為 -5V ~+5V & 4 ~ 20 mA,電流可用適當(dāng)電阻轉(zhuǎn)換為電壓(+/-10V 內(nèi)),以便輸入模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換卡。
3.3 數(shù)位卡
數(shù)字就是0 與1,數(shù)字卡(Digital I/O card)只分低電位與高電位,基本上0V 代表低電位也就是0,5V 代表高電位即為1,數(shù)字訊號輸入(DI)包含計(jì)數(shù)器、光電開關(guān)等,可用于通知PCB銅箔基板通過與儀器周邊狀況的顯示,數(shù)字訊號輸出(DO)用在控制或警報(bào),控制包含質(zhì)量分析結(jié)果顯示,表現(xiàn)方法可能是計(jì)算機(jī)屏幕顯示OK/NG、警報(bào)或分級(連回程序邏輯控制器, PLC)。
模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換卡與數(shù)字卡已經(jīng)合而為一,稱為多功能卡(Multifunction I/O card),除非數(shù)字訊號太多,否則一張卡即可。
3.4 繼電器
數(shù)字輸出訊號無法直接到工廠設(shè)備,例如PLC、電磁閥、警鈴等,主因這些設(shè)備需要12、24V 才能驅(qū)動(dòng),一般數(shù)字卡所輸出電壓只有5V,因此需要繼電器,繼電器的選擇要注意其使用頻率、反應(yīng)時(shí)間,磁簧開關(guān)已經(jīng)足夠,但連續(xù)快速使用,會導(dǎo)致彈性疲乏,反應(yīng)時(shí)間變慢,可改用電子式繼電器,不過在某些狀況有壓降的情形,但這是另外一項(xiàng)課題。
3.5 計(jì)算機(jī)
計(jì)算機(jī)已經(jīng)相當(dāng)普遍,但一般桌面計(jì)算機(jī)不適合用在現(xiàn)場,必須考慮操作人員的素質(zhì)與環(huán)境,最好采用工業(yè)級計(jì)算機(jī),比較可以容忍較大的濕度與溫度范圍,以及一年不停的運(yùn)轉(zhuǎn)。
3.6 軟件
雷射測厚儀主畫面,可直接將三個(gè)剖面做完整的顯示,操作人員基本上只要輸入鍋號及料號,軟件會檢查輸入是否正確,并依據(jù)料號之編碼原則計(jì)算所有等級上下限,以避免人為錯(cuò)誤,主畫面也顯示分級設(shè)備狀況并適時(shí)提醒,也可計(jì)算上一鍋之Cp (Capability of precision, 制程精密度)、Cpk 與平均值,另外操作人員需在工單上注明計(jì)算機(jī)上顯示Class A & B 之?dāng)?shù)量給品管檢驗(yàn)人員參考,雙重確認(rèn)厚度不良品不會流到客戶手中。
此外,除將結(jié)果存盤本機(jī)計(jì)算機(jī),也透過網(wǎng)絡(luò)存盤至服務(wù)器給相關(guān)人員參考,若想在內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)實(shí)時(shí)監(jiān)控所有測厚儀狀態(tài)也可以辦到,目前業(yè)者測厚儀判定Class C,Cpk 小于1.33 時(shí),自動(dòng)發(fā)出E-mail 通知相關(guān)人員。
3.7 量測位置
IPC-4101 僅規(guī)定厚度等級,沒有規(guī)定量測儀器、位置與數(shù)據(jù)數(shù),形成各家有各家的規(guī)定。厚度數(shù)據(jù)應(yīng)是全剖面,因此要取多少點(diǎn)都可以,一張基板合理取27 點(diǎn)存檔(距板邊3, 5, 10 ,15,center, -15, -10, -5, -3 inches),厚度30 mil 以上基板,可加測板邊1 inch(共33 點(diǎn))做分級,任何一點(diǎn)都不得超出規(guī)格,Cpk 之計(jì)算應(yīng)為27 點(diǎn)各自獨(dú)立。
3.8 校正
測厚儀不能保證免校驗(yàn),因此要有校正的方法,一般利用標(biāo)準(zhǔn)樣品做校驗(yàn)。校正應(yīng)分機(jī)構(gòu)歸零與軟件歸零,另外每年要定期測試其重復(fù)與再現(xiàn)性。若有可能,應(yīng)做雷射位移傳感器線性度測試。
4. 理論
厚度的測試實(shí)行一段時(shí)間后,測厚設(shè)備可能因零組件老化、損壞或客戶需求,必須持續(xù)的維護(hù)與改進(jìn),這時(shí)候一定要從理論著手,才能做異常原因判斷。
4.1 雷射位移傳感器
一般業(yè)界所使用雷射位移傳感器為三角量測系統(tǒng),即為打出特定波長雷射光,遇上物體有反射、穿透、散射等,傳感器接收此特定波長散射光,由角度得到距離。
位移傳感器要轉(zhuǎn)換成厚度需要上方與下方各一個(gè)傳感器,分別得到PCB銅箔基板上方與上方傳感器距離及PCB銅箔基板下方與下方傳感器距離,與兩個(gè)感測頭距離相減得到厚度。
由于輸送帶與PCB銅箔基板散射光量不同因此位移傳感器之控制電路檢測出光束光點(diǎn)對每一像素(pixel, 有愈多像素代表硬件分辨率愈好)光量分布值,會自動(dòng)調(diào)整靈敏度以利量測,故厚度量測在板邊會有不穩(wěn)定現(xiàn)象。
雷射位移傳感器,采樣率較慢,凹陷會被忽略,而凹陷是否就是主要缺點(diǎn)。有些傳感器會給最直接的數(shù)據(jù),也有的傳感器控制電路會以階梯式變化。
4.2 誤差
誤差的可能原因,零組件本身因素有雷射位移傳感器、模擬數(shù)字卡與聯(lián)機(jī),外在因素有溫度與作業(yè)環(huán)境。就雷射位移傳感器與模擬數(shù)字卡做一比較,發(fā)現(xiàn)雷射位移傳感器的線性度是誤差最大來源。
噪聲是非規(guī)則性的訊號,可能由接頭、扁平電纜產(chǎn)生,訊號以電壓傳遞比用電流傳遞,噪聲的影響相對較高。噪聲之消除可用圖十一方式處理,會得到較為平緩數(shù)據(jù)。
若位移傳感器不提供這種功能,可由軟件處理,可用時(shí)間平均法、加權(quán)平均法等。
原始資料
X1, X2, X3 … Xn-1, Xn, Xn+1, …
三點(diǎn)平均
Xn = (Xn-1+Xn+Xn+1) ÷ 3
五點(diǎn)平均
Xn = (Xn-2+Xn-1+Xn+Xn+1+Xn+2) ÷ 5
加權(quán)平均
Xn = (c*Xn-2+b*Xn-1+a*Xn+b*Xn+1+c*Xn+2) ÷(a+2b+2c)
4.3 故障排除
若發(fā)生設(shè)備異常,在了解圖3 之測厚儀架構(gòu)后,可判斷出輸入或輸出訊號發(fā)生問題進(jìn)而檢修。例如:
1. 無厚度數(shù)據(jù)-檢查訊號輸入扁平電纜、雷射位移傳感器是否開啟、傳感器電源供應(yīng)是否正常。
2. 無法分級-檢查數(shù)字訊號輸出,供應(yīng)繼電器電壓是否異常。
5. 結(jié)論
整個(gè)PCB銅箔基板雷射測厚系統(tǒng),包含雷射位移傳感器(光)、機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)(機(jī))、電路、光電開關(guān)、接線(電)與軟件共同整合,每一項(xiàng)零組件都關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)好壞,如不了解架構(gòu)流程,一旦故障無法實(shí)時(shí)處置,現(xiàn)場人員將不信任,整個(gè)系統(tǒng)成為累贅,質(zhì)量毫無控管可言,因此要秉持戒慎恐懼的心情來應(yīng)用此項(xiàng)設(shè)備。
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